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igbt模塊參數(shù)檢測
2021-06-10
1.igbt模塊結(jié)到NTC的暫態(tài)熱阻抗Zth(j-r)
圖9:igbt模塊結(jié)到NTC的暫態(tài)熱阻抗Zth(j-r)
到這兒我們能夠看出,動(dòng)態(tài)結(jié)溫選用熱阻抗Zth(j-r)的測算工作量要比穩(wěn)態(tài)選用熱阻Rth(j-r)大許多 。事實(shí)上,為了能精準(zhǔn)測算動(dòng)態(tài)結(jié)溫,還需要考慮熱耦合的影響。因?yàn)槊恳粋€(gè)開關(guān)的耗損和結(jié)溫并不一致,我們在檢測熱阻抗Zth(j-r)只能針對每一個(gè)開關(guān)檢測,而這又忽視了其余開關(guān)對被測開關(guān)和NTC熱的影響。
圖10描述了一個(gè)半橋模塊內(nèi)各開關(guān)間的熱耦合。這兒以上橋igbt模塊(TOPigbt模塊)為例子,它除去本身發(fā)熱對NTC的溫度造成影響,對應(yīng)結(jié)到NTC的熱阻為Rth(j-r)_self,其余發(fā)熱開關(guān):下橋igbt模塊(BOTigbt模塊)、上橋二極管(TOP Diode)、下橋二極管(BOTDiode),都會(huì)對上橋igbt模塊和NTC間的溫差造成影響,對應(yīng)的熱阻為Rth(j-r)_switch2、Rth(j-r)_switch3、Rth(j-r)_switch4。要留意的是,這種熱阻表現(xiàn)的是其余開關(guān)對上橋igbt模塊和NTC間溫度的影響程度,其值甚至也能是負(fù)值。
所以,對一個(gè)半橋IGBT模塊,有4個(gè)開關(guān)元器件(上、下橋igbt模塊和二極管),每一個(gè)開關(guān)和NTC間的溫度關(guān)系要用4個(gè)熱阻來表達(dá),如此就產(chǎn)生了1個(gè)熱阻矩陣來充分表現(xiàn)1個(gè)模塊中開關(guān)元器件和NTC間的溫度關(guān)系,如表1所示。針對動(dòng)態(tài)結(jié)溫,這種熱阻一樣要選用熱阻抗來測算。
表1:半橋模塊的熱阻矩陣
同樣,要測算動(dòng)態(tài)結(jié)溫,平均耗損計(jì)算方法也不會(huì)再適用,須要在每一個(gè)調(diào)制周期內(nèi)即時(shí)測算igbt模塊的導(dǎo)通耗損和開關(guān)損耗,計(jì)算公式如下:
有了各個(gè)開關(guān)器件的動(dòng)態(tài)耗損,在結(jié)合測量的動(dòng)態(tài)熱阻抗曲線,就可以以載波頻率相對應(yīng)的步長即時(shí)測算igbt模塊的動(dòng)態(tài)結(jié)溫,計(jì)算公式如下:
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